圖為成都摩爾實驗室總經理致開幕辭
為讓西南地區(qū)廣大的電子產品生產和研發(fā)企業(yè)進一步掌握現(xiàn)行標準的試驗方法，了解環(huán)境與可靠性技術發(fā)展的最新趨勢及未來標準發(fā)展方向，由全國電工電子產品環(huán)境試驗標準化技術委員會主辦，成都摩爾實驗室、成都高新區(qū)環(huán)境與可靠性測試公共技術平臺、成都市科學技術情報研究所承辦，上海蘇試眾博環(huán)境試驗技術有限公司、偉思富奇環(huán)境試驗儀器（太倉）有限公司協(xié)辦的2014年西南地區(qū)“環(huán)境試驗與可靠性工程技術創(chuàng)新論壇暨GJB150A培訓會”于2014年12月4日至5日在成都康普雷斯大酒店成功舉辦。
整個論壇為期兩天，邀請了國內環(huán)境與可靠性技術領域的專家，王德言教授、王樹榮教授、施榮明教授到會發(fā)言；包括四川長虹、成都聯(lián)想、成都飛機設計研究所、中國電子集團第三十研究所、成都華為、成都大唐電信、成都九洲電子、中科院光電技術研究所、先進科技、中國工程物理研究研應用電子研究所、成都衛(wèi)士通、邁普科技、西科微波等80余家企事業(yè)單位，共140余名來賓參加了本次論壇和培訓。
對于本次論壇及培訓，參會嘉賓都給予極高評價，不僅會務安排周到合理，最重要的是內容豐富，且能解決實際工作中的問題，希望主辦方將這類論壇辦成一個西南地區(qū)環(huán)境與可靠性技術交流的盛會。
